振動試驗臺用途：
振動試驗臺適用于電子器件、機電產(chǎn)品、汽車零部件、儀器儀表、玩具等各行各業(yè)的研究、開發(fā)、制造，檢測產(chǎn)品在運送、使用中產(chǎn)生的碰撞及振動，提早知道產(chǎn)品或產(chǎn)品部件的耐振動試驗。
振動試驗臺的5大主要功能
1、振動試驗臺的定頻功能：我們可以在頻率范圍以內(nèi)任意設定單組試驗頻率;
2、設備的掃頻功能：能頻率范圍以內(nèi)任意設定上限頻率、下限頻率以及周期的時間,然后進行循環(huán)掃頻試驗;
3、振動試驗臺的倍頻功能：在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成倍的來進行循環(huán)試驗;
4、設備的對數(shù)功能：在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成對數(shù)的形式來進行循環(huán)試驗;
5、振動試驗臺的可程式功能：能在頻率范圍以內(nèi)將不同的固定頻率及時間分段編程試驗一共有15段。

振動試驗臺技術(shù)參數(shù)：
1、頻率范圍：50HZ、1-600HZ、1-3000HZ、1-5000HZ
2、上下左右同一臺面臺體尺寸500×500×450:mm
上下左右前后同一個臺面臺體尺寸500×500×600:mm
3、振動波形：正弦波（半波/全波）
4、振動臺面尺寸500×500×10:mm
5、振幅范圍：0～4mm
6、大加速度：＜15g
7、承重量：75kg/60kg
8、時間設定范圍：1-65000S
9、運行次數(shù)：1-65000次任意設定
10、頻率可顯示到0.01Hz、精密度0.1Hz
11、電源電壓：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

振動試驗臺技術(shù)參數(shù)：1．大試驗負載(Kg)：602．設時范圍：0.01S-99.99H3．手動調(diào)頻范圍(Hz)：1~2004．工作臺面尺寸(mm)：550×550×465．自動掃頻范圍(Hz)：1~2006．工作臺體尺寸(mm)：550×550×3507．空載位移幅值(mm)：0~58．控制箱尺寸(mm)：450×330×7509．振動方向：垂直10．電源電壓(V/Hz)：220/50±2%11．振動波形：正弦波12．消耗功率(KVA)：1.713．測試模式：調(diào)頻/自動掃頻（線性振動）14．標準：GB/T2423.10

振動試驗臺產(chǎn)品功能：  
1.調(diào)頻功能：在頻率范圍內(nèi)任意設定頻率。  
2.掃頻功能：（上限頻率/下限頻率/時間范圍）可任意設定。  
3.可程式功能：任意調(diào)整1~15段每段可任意設定（頻率/時間）可循環(huán)。  
4.對數(shù)功能：①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。  
5.倍頻功能：任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加，①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。  
6.顯示振幅加速度：如需看出振幅、加速度、大加速度、準確數(shù)值需另購測量儀（另購）。  
7.全功能電腦控制：485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦（另購）。  注：定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。
振動試驗臺是用于在實驗室內(nèi)模擬真實振動環(huán)境效應的試驗設備，振動試驗是在振動臺上采用不同的輸入信號激勵樣品。振動試驗主要分為正弦和隨機振動，由于兩者的物理過程不同，在兩者之間沒有嚴格的等效關系，所以在選擇試驗方式時，切勿進行正弦到隨機的嚴酷度等級轉(zhuǎn)換。
正弦振動試驗使用固定或變化的頻率和幅值的正弦信號，在每一瞬間時僅施加一個頻率，試驗條件包括頻率范圍或固定頻率、振幅和試驗持續(xù)時間。
真實環(huán)境中正弦振動很少一單一頻率的振動形式立出現(xiàn)。即使在旋轉(zhuǎn)的機械上直接測量加速度時也是這樣。如齒輪和軸承，實際存在的公差和間隙，通常導致在頻率上有微小的變化。旋轉(zhuǎn)機械的隨機特性也會發(fā)生某種形式的隨機振動。
正弦振動可以描述為確定性運動，遵循確定的規(guī)律，完全可以從過去的狀態(tài)來確定未來任意時間的狀態(tài)。在進行正弦掃頻試驗過程中，改方法通常用來確定出現(xiàn)失效的時刻，因為這個失效很可能是和特定頻率密切相關的，而用隨機振動試驗試驗方法這種相關效果不是很明顯。當然，相對于隨機試驗方法，正弦試驗方法通常需要用更長的時間激發(fā)出失效，這是因為每次掃頻過程中，在每個共振點上只作用很短的時間。盡管在任一時刻只施加一個頻率，如果掃頻速率足夠慢，確實可以使得樣品的特定共振峰達到大。也可以用來發(fā)現(xiàn)潛在的破壞性共振點，尤其是在設計和研制試驗中。
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